激光/光学测量仪器
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小透镜/镜头 光学特性分析仪
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激光扩束器
高损伤阈值光学元件
空间辐射环境及效应分析软件
手机：13260281658
邮箱：sales@hetuo-tech.com
地址：北京市海淀区紫竹院路广源闸5号广源大厦二层275
我们的产品基于夏克-哈特曼专利技术， 能够测量光束位相和振幅（光强）的分布情况，提供被测波面的误差数据（PV,RMS）以及波面二维/三维图。 给出被测系统的光学特性参数（如： 点扩散函数PSF、M平方、 调制传递函数MTF、和Zernike像差系数等）。
主要特点:
● 我们专利的”动态点追踪/定位算法” 保证了极高动态范围
● 特有的校准技术和极高的微透镜阵列质量, 确保了极高的波前绝对测量精度, 用户无需参考光源再校准
● 能够同时、实时测量相位与强度
● 抗环境干扰 (震动, 气流, 温度)能力强
应用:
● 常规光学元件面形检测 (平面, 球面, 透镜)
● 非球面光学元件检测
● 大口径高精度光学元件检测
● 光学系统波前像差检测
● 激光光束波面/强度检测
● 激光光束性能检测
● 平行光管/望远镜系统的检测与装调
● 主动光学与自适应光学
性能指标:
● 测量波长: 紫外, 可见光全波段到红外
● 测量口径: Φ50mm～Φ300mm可定制
● 测量精度: λ/100 ~ λ/1000 RMS
● 动态范围: 最高可达1500λ
● 空间分辨率: 256 ~ 16384个采样点
● 速度: 最高可达950Hz
软件功能:
● 采集模式: 连续, 单次抓拍, 序列采集, 脉冲同步
● 波前重构模式: Zonal, Zernike多项式, Legendre多项式
● 波前测量模式: 绝对, 相对
● 波前/强度分布显示: 二维, 三维
● 计算M2 , 分析光束发散特性
● 测得Spot diagram, PSF和Strehl ratio, 用于分析光束聚焦特性
● 计算MTF, 分析成像系统
● 可通过网线或WIFI进行远程控制
● 其它功能…